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半导体参数仪B1500A
 
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Keysight B1500A 半导体器件分析仪是一款真正意义?#31995;?#21442;数分析仪

·         Keysight B1500A 半导体器件分析仪(半导体参数分析仪/半导体表征系?#24120;?#26159;器件表征的综合解决方案。

·         支持基本的电流-电压(IV)和电容-电压(CV)测量以及业界领先的快速脉冲 IV/ 快速 IV / 瞬时 IV 测量,具备极高的测量可靠性

·         嵌入式 Windows 7 和功能?#30475;?#30340; EasyEXPERT 软件借助先进的图形用户界面(GUI),可让您执行高效、深入、数据可恢复的器件表征。

·         这款最佳表征解决方案可对器件、?#29287;稀?#21322;导体、有源/无源元件以及?#25105;?#30005;气器件进行各种电气表征和评测。

·         根据您的测试需求,模块化结构可升级至 10 插槽配置。

卓越的测量能力?#22270;?#39640;的测量可靠性
Keysight B1500A
针对基础和高级器件表征提供以下功能。
 

测量功能

主要技术指标/特性

测量模块

电流/电压(IV)测量

·         电源和测量范围高达 200 V/1 A

·         最低测量分辨率为 0.1 fA / 0.5 µV

·         针对基础和高级 IV 测量提供点测量、扫描测量等功能

B1511B /B1511B /B1511B  SMU(电源/测量单元)

准静态 CVQS-CV

·         精确的准静态电容-电压(QS-CV)测量,具有泄露电流补偿

采样测量

·         采样(时域)测量间隔为 100 µs

B1510A/B1511A/B1517A SMU(电源/测量单元)

脉冲测量

低至 500 µs

·         500 µs 脉宽、2 μs 分辨?#23454;?#26465;件下执?#26032;?#20914;测量

低至 100 ns

·         适用于脉冲 IV 和瞬时 IV 的超快速 IV 测量功能,例如 NBTI/PBTIRTN(随机电报信号噪声)等

·         脉冲测量,脉宽为 50 μs

·         电源和测量范围高达 30 V / 1 A0.1 A 直流)

·         支?#36136;静?#22120;视图

·         利用 10 ns 编程分辨率生成波形

·         同时执行高速 IV 测量(200 MSa/s,采样率为 5 ns

·         10V 峰峰值输出

·         利用动态 SMU 技术,负载线不会影响脉冲 IV 测量的精度

B1514A 50 µs 脉冲 MCSMU
(?#26800;?#30005;流电源/测量单元)
 

低至 10 ns

·         适用于 k/SOI 脉冲 IV 的表征解决方案

·         选通脉冲宽度是 10 ns 1 µs,上升和下降时间最小值为 2 ns

B1542A 10 ns 脉冲 IV 参数测试解决方案

脉冲生成

·         高压输出可达 ±40 V,适用于非?#36164;?#23384;储器测试

·         为单通道提供二电平和三电平脉冲

·         利用 10 ns 分辨率灵活地生成?#25105;?#27874;形(?#25105;?#32447;性波形生成功能)

·         每个模块具有两个通道

B1525A HV-SPGU(高电压半导体脉冲发生器单元)

交流阻抗(CV)测量

·         交流阻抗测量(C-VC-fC-t

·         频率范围 1 kHz 5 MHz

·         SMU 提供 25 V 内置直流偏置和 100 V 直流偏置

·         SCUU 能够快捷、精确地改变 IV CV 自动连接

B1520A MFCMU(多频?#23454;?#23481;测量单元)

在研发的各个阶段中(从探测到自动化)实现高效、数据可恢复的器件表征
- EasyEXPERT
软件在嵌入式 Windows 7 ?#24615;?#34892;
-
数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)
-15
英寸触摸屏支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测
-
自动数据记录特性支持测试数据和测试条件的恢复,可使您轻松地进行探测
-
利?#20204;?#32447;追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实?#36136;?#26102;交互表征

-EasyEXPERT 的曲线追踪仪测试模式通过旋钮来控制可变扫描,与传统的曲线追踪仪类似
-
?#38745;?#22120;视图能够显示施加到器件?#26800;?#30005;压和电流波形,从而帮助用户优化测试条件、观察器件的瞬时现象
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利用便捷的在线/离线测试环境完成测试开发与分析,从而最大限度地发挥仪器效用
 

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